GIỜ PHỤC VỤ BẠN ĐỌC

Từ thứ 2 đến thứ 6
- Sáng: 8:30 - 11:30
- Chiều: 13:30 - 16:30
Thứ 7, CN thư viện nghỉ

Tìm thấy 2 kết quả phù hợp với yêu cầu của bạn. Theo dõi kết quả tìm kiếm này

|
1. Gate dielectric integrity : material, process, and tool qualification

Tác giả: Gupta, D. C. (Dinesh C.); Brown, George A. -- Conference on Gate Dielectric Integrity (1999 : San Jose, Calif.).

Kiểu tài liệu: book Sách; Định dạng: print ; Literary form: not fiction Xuất bản: West Conshocken, Pa. : ASTM, c2000Trạng thái: ĐKCB sẵn sàng: Trung tâm Thông tin - Tư liệu (1). Kho tài liệu: Phòng thư viện 621.3815.

2. Gate dielectric integrity : material, process, and tool qualification

Tác giả: Gupta, D. C. (Dinesh C.); Brown, George A. -- Conference on Gate Dielectric Integrity (1999 : San Jose, Calif.).

Kiểu tài liệu: book Sách; Định dạng: print ; Literary form: not fiction Xuất bản: West Conshocken, Pa. : ASTM, c2000Trạng thái: ĐKCB sẵn sàng: Thư viện Trường ĐH Khoa học và Công nghệ (1). Kho tài liệu: 621.382.

VIỆN HÀN LÂM KHOA HỌC VÀ CÔNG NGHỆ VIỆT NAM - TRUNG TÂM THÔNG TIN TƯ LIỆU
Địa chỉ: Nhà A11- Số 18 - Hoàng Quốc Việt - Hà Nội - Việt Nam
Điện thoại: 043.756 4344 - Fax: 043.756.4344
Email: vanthu@isi.vast.vn